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Journal Of Electronic Imaging

Journal Of Electronic Imaging SCIE

電子影像雜志雜志

中科院分區(qū):4區(qū) JCR分區(qū):Q4 預計審稿周期: 約4.0個月

《Journal Of Electronic Imaging》是一本由SPIE出版商出版的計算機科學國際刊物,國際簡稱為J ELECTRON IMAGING,中文名稱電子影像雜志。該刊創(chuàng)刊于1992年,出版周期為Quarterly。 《Journal Of Electronic Imaging》2023年影響因子為1,被收錄于國際知名權威數(shù)據(jù)庫SCIE。

ISSN:1017-9909
研究方向:工程技術-成像科學與照相技術
是否預警:否
E-ISSN:1560-229X
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:3.76%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0.0554...
出版商:SPIE
出版周期:Quarterly
影響因子:1
創(chuàng)刊時間:1992
年發(fā)文量:316
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計 通訊方式 相關雜志 期刊導航

Journal Of Electronic Imaging 雜志簡介

《Journal Of Electronic Imaging》重點專注發(fā)布工程技術-成像科學與照相技術領域的新研究,旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。鼓勵該領域研究者詳細地發(fā)表他們的高質(zhì)量實驗研究和理論結果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程技術-成像科學與照相技術領域,有較高影響力,對來稿文章質(zhì)量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領域研究者投稿該雜志。

Journal Of Electronic Imaging 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月舊的升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月舊的升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質(zhì)量的重要指標。

Journal Of Electronic Imaging 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3%

學科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2%

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28%

學科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75%

Journal Of Electronic Imaging CiteScore 評價數(shù)據(jù)(2024年最新版)

  • CiteScore:1.7
  • SJR:0.264
  • SNIP:0.357

CiteScore 排名

學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

32%

大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

25%

大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 610 / 817

25%

CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學術期刊質(zhì)量的指標,該指標是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Journal Of Electronic Imaging 雜志發(fā)文統(tǒng)計

文章名稱引用次數(shù)

  • Image privacy scheme using quantum spinning and rotation13
  • Defogging of road images using gain coefficient-based trilateral filter10
  • SWCD: a sliding window and self-regulated learning-based background updating method for change detection in videos10
  • Single image dehazing using a multilayer perceptron10
  • Optimized fuzzy cellular automata for synthetic aperture radar image edge detection9
  • Infrared and visible image fusion based on convolutional neural network model and saliency detection via hybrid l(0)-l(1) layer decomposition8
  • Image segmentation via multilevel thresholding using hybrid optimization algorithms8
  • Joint classification of multiresolution representations with discrimination analysis for SAR ATR7
  • Improved opponent color local binary patterns: an effective local image descriptor for color texture classification6
  • Combining background subtraction algorithms with convolutional neural network6

Journal Of Electronic Imaging 雜志社通訊方式

《Journal Of Electronic Imaging》雜志通訊方式為:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務,SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術規(guī)范,詳情請咨詢客服。

免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯(lián)系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。

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