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Journal Of Electronic Testing-theory And Applications

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications SCIE

電子測試理論與應(yīng)用雜志雜志

中科院分區(qū):4區(qū) JCR分區(qū):Q4 預(yù)計審稿周期: 較慢,6-12周

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》是一本由Springer US出版商出版的工程技術(shù)國際刊物,國際簡稱為J ELECTRON TEST,中文名稱電子測試理論與應(yīng)用雜志。該刊創(chuàng)刊于1990年,出版周期為Bimonthly。 《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》2023年影響因子為1.1,被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。

ISSN:0923-8174
研究方向:工程:電子與電氣-工程技術(shù)
是否預(yù)警:否
E-ISSN:1573-0727
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:9.56%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0.0092...
出版商:Springer US
出版周期:Bimonthly
影響因子:1.1
創(chuàng)刊時間:1990
年發(fā)文量:43
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導航

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志簡介

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》重點專注發(fā)布工程:電子與電氣-工程技術(shù)領(lǐng)域的新研究,旨在促進和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識。鼓勵該領(lǐng)域研究者詳細地發(fā)表他們的高質(zhì)量實驗研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程:電子與電氣-工程技術(shù)領(lǐng)域,有較高影響力,對來稿文章質(zhì)量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月舊的升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎(chǔ)版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月舊的升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術(shù)期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認為是該學科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術(shù)水平,乃至論文質(zhì)量的重要指標。

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 278 / 352

21.2%

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 293 / 354

17.37%

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications CiteScore 評價數(shù)據(jù)(2024年最新版)

  • CiteScore:2
  • SJR:0.271
  • SNIP:0.518

CiteScore 排名

學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 495 / 797

37%

CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學術(shù)期刊質(zhì)量的指標,該指標是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志發(fā)文統(tǒng)計

文章名稱引用次數(shù)

  • Machine Learning for Hardware Security: Opportunities and Risks10
  • Security Analysis of the Efficient Chaos Pseudo-random Number Generator Applied to Video Encryption6
  • Single Event Transient Propagation Probabilities Analysis for Nanometer CMOS Circuits5
  • Test and Reliability in Approximate Computing5
  • An Extensible Code for Correcting Multiple Cell Upset in Memory Arrays4
  • Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs3
  • Hardware Trojan Detection Using an Advised Genetic Algorithm Based Logic Testing3
  • Test Generation for Bridging Faults in Reversible Circuits Using Path-Level Expressions3
  • A Low-Cost Test Solution for Reliable Communication in Networks-on-Chip3
  • The Fundamental Primitives with Fault-Tolerance in Quantum-Dot Cellular Automata3

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志社通訊方式

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志通訊方式為:SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務(wù),SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術(shù)規(guī)范,詳情請咨詢客服。

免責聲明

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