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Ieee Instrumentation & Measurement Magazine

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine SCIE

IEEE 儀器與測量雜志雜志

中科院分區(qū):4區(qū) JCR分區(qū):Q3 預(yù)計審稿周期: 12周,或約稿

《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的工程技術(shù)國際刊物,國際簡稱為IEEE INSTRU MEAS MAG,中文名稱IEEE 儀器與測量雜志。該刊創(chuàng)刊于1998年,出版周期為Quarterly。 《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》2023年影響因子為1.6,被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。

ISSN:1094-6969
研究方向:工程技術(shù)-工程:電子與電氣
是否預(yù)警:否
E-ISSN:1941-0123
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:0.00%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期:Quarterly
影響因子:1.6
創(chuàng)刊時間:1998
年發(fā)文量:64
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導(dǎo)航

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志簡介

《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》重點專注發(fā)布工程技術(shù)-工程:電子與電氣領(lǐng)域的新研究,旨在促進(jìn)和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識。鼓勵該領(lǐng)域研究者詳細(xì)地發(fā)表他們的高質(zhì)量實驗研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程技術(shù)-工程:電子與電氣領(lǐng)域,有較高影響力,對來稿文章質(zhì)量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月舊的升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎(chǔ)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月舊的升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果,是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個重要指標(biāo),一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo),不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo),而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平,乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 239 / 352

32.2%

學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q3 48 / 76

37.5%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 200 / 354

43.64%

學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q3 46 / 76

40.13%

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine CiteScore 評價數(shù)據(jù)(2024年最新版)

  • CiteScore:4.2
  • SJR:0.496
  • SNIP:0.763

CiteScore 排名

學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 312 / 797

60%

大類:Engineering 小類:Instrumentation Q2 56 / 141

60%

CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo),該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo),給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志發(fā)文統(tǒng)計

文章名稱引用次數(shù)

  • Internet of Things for Smart Ports: Technologies and Challenges32
  • The Fourth Industrial Revolution - Industry 4.0 and IoT10
  • Contaminants detection and classification through a customized IoT-based platform: A case study7
  • IoT for Structural Health Monitoring5
  • Deep Learning-Based Hand Gesture Recognition for Collaborative Robots5
  • A Concrete Architecture for Smart Solutions based on IoT Technologies5
  • Ultrasound-Guided Minimally Invasive Grinding for Clearing Blood Clots: Promises and Challenges5
  • A New Low Cost Power Line Communication Solution for Smart Grid Monitoring and Management5
  • Academic FabLabs for Industry 4.0: Experience at University of Naples Federico II4
  • The Units for Mass, Voltage, Resistance, and Electrical Current in the SI4

國家/地區(qū)發(fā)文量

  • Italy69
  • USA59
  • France19
  • England16
  • CHINA MAINLAND11
  • New Zealand11
  • Canada10
  • GERMANY (FED REP GER)10
  • Spain10
  • Malaysia7

機(jī)構(gòu)發(fā)文發(fā)文量

  • UNIVERSITY OF CATANIA23
  • NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLOGY (NIST) - USA14
  • IEEE13
  • AMER PHYS SOC8
  • BIPM6
  • UNIVERSITY OF OTTAWA6
  • UNIVERSITY OF SALENTO6
  • I&M SOC5
  • INT BUR WEIGHTS & MEASURES BIPM5
  • TECH COMM MEASUREMENTS & NETWORKING TC 375

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志社通訊方式

《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》雜志通訊方式為:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細(xì)征稿細(xì)則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導(dǎo)服務(wù),SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學(xué)術(shù)規(guī)范,詳情請咨詢客服。

免責(zé)聲明

若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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