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雜志簡(jiǎn)介中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計(jì) 通訊方式相關(guān)雜志期刊導(dǎo)航

Microscopy And Microanalysis 雜志簡(jiǎn)介

《Microscopy And Microanalysis》重點(diǎn)專注發(fā)布工程技術(shù)-材料科學(xué)：綜合領(lǐng)域的新研究，旨在促進(jìn)和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識(shí)。鼓勵(lì)該領(lǐng)域研究者詳細(xì)地發(fā)表他們的高質(zhì)量實(shí)驗(yàn)研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今，在工程技術(shù)-材料科學(xué)：綜合領(lǐng)域，有較高影響力，對(duì)來(lái)稿文章質(zhì)量要求較高，稿件投稿過(guò)審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Microscopy And Microanalysis 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)

中科院SCI期刊分區(qū)（2023年12月升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué)：綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2022年12月升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué)：綜合	3區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月舊的升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué)：綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月基礎(chǔ)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué)：綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	4區(qū) 2區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué)：綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2020年12月舊的升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué)：綜合	2區(qū) 3區(qū)	否	否

中科院分區(qū)趨勢(shì)圖

影響因子趨勢(shì)圖

中科院JCR分區(qū)：中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果，是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個(gè)重要指標(biāo)，一般而言，發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文，通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Microscopy And Microanalysis 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(kù)（2023-2024年最新版）

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY	SCIE	Q3	220 / 438	49.9%
學(xué)科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	1 / 8	93.8%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY	SCIE	Q2	197 / 438	55.14%
學(xué)科：MICROSCOPY	SCIE	Q4	7 / 8	18.75%

Microscopy And Microanalysis CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)（2024年最新版）

CiteScore：1.1
SJR：0.387
SNIP：0.475

CiteScore 排名

學(xué)科類別	分區(qū)	排名	百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Instrumentation	Q4	124 / 141	12%

CiteScore趨勢(shì)圖

年發(fā)文量趨勢(shì)圖

CiteScore：是由Elsevier2016年發(fā)布的一個(gè)評(píng)價(jià)學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo)，該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的，都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo)，給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Microscopy And Microanalysis 雜志發(fā)文統(tǒng)計(jì)

文章名稱引用次數(shù)
Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy (4D-STEM): From Scanning Nanodiffraction to Ptychography and Beyond39
High Throughput Quantitative Metallography for Complex Microstructures Using Deep Learning: A Case Study in Ultrahigh Carbon Steel18
Identification of Medicinally Used Flora Using Pollen Features Imaged in the Scanning Electron Microscopy in the Lower Margalla Hills Islamabad Pakistan13
Extracting Grain Orientations from EBSD Patterns of Polycrystalline Materials Using Convolutional Neural Networks10
Fabrication of Atom Probe Tomography Specimens from Nanoparticles Using a Fusible Bi-In-Sn Alloy as an Embedding Medium8
Atom Probe Tomography Interlaboratory Study on Clustering Analysis in Experimental Data Using the Maximum Separation Distance Approach7
Quantification Challenges for Atom Probe Tomography of Hydrogen and Deuterium in Zircaloy-47
Evaluation and Microanalysis of Parasitic and Bacterial Agents of Egyptian Fresh Sushi, Salmo salar7
Description of Ore Particles from X-Ray Microtomography (XMT) Images, Supported by Scanning Electron Microscope (SEM)-Based Image Analysis7
An Automated Computational Approach for Complete In-Plane Compositional Interface Analysis by Atom Probe Tomography6
國(guó)家/地區(qū)發(fā)文量
USA94
CHINA MAINLAND48
GERMANY (FED REP GER)43
England29
India25
Australia22
Egypt21
France16
Japan16
Netherlands16
機(jī)構(gòu)發(fā)文發(fā)文量
ASSIUT UNIVERSITY17
UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE)17
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)12
UNIVERSITY OF BELGRADE12
HELMHOLTZ ASSOCIATION10
UNIVERSITY OF OXFORD10
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES9
MAX PLANCK SOCIETY8
MCGILL UNIVERSITY8
NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLOGY (NIST) - USA8

Microscopy And Microanalysis 雜志社通訊方式

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